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殘余應力測量儀 PA-Micro

價  格：詢價

產(chǎn)  地：更新時間：2021-01-21 11:00

品  牌：其他型  號：PA-Micro

狀  態(tài)：正常點擊量：2455

400-006-7520
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上海非利加實業(yè)有限公司

聯(lián) 系 人： 上海非利加實業(yè)有限公司

電   話： 400-006-7520

傳   真： 400-006-7520

配送方式： 上海自提或三方快遞

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產(chǎn)品參數(shù)


產(chǎn)品介紹

殘余應力測量儀 PA-Micro

   PA系列是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm，可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其專利技術的光子晶體偏光陣列片，獨有的雙折射算法設計制造，得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力，使其成為業(yè)內(nèi)，特別是工業(yè)界雙折射測量/應力測量的選擇。

  


主要特點：

  • 操作簡單，測量速度可以快到3秒。

  • 視野范圍內(nèi)可***次測量，測量范圍廣。

  • 更直觀的全面讀取數(shù)據(jù)，無遺漏數(shù)據(jù)點。

  • 具有多種分析功能和測量結果的比較。

  • 維護簡單，不含旋轉光學濾片的機構。

  • 高達2056x2464像素的偏振相機。


應用領域：

  • 通信光纖

  • 晶體



技術參數(shù)：

    項次

           項目            

具體參數(shù)

1

輸出項目

          相位差【nm】，軸方向【°】，相位差與應力換算（選配）【MPa】


2

測量波長

520nm


3

雙折射測量范圍

0-130nm


4

測量***小分辨率

0.001nm


5

測量重復精度

<1nm（西格瑪）


6

視野尺寸

142x170um到3.5x4.2mm
(×2，×5，×10，×20，×50)


7

選配鏡頭視野

無


8

選配功能    

            實時解析軟件，鏡片解析軟件，數(shù)據(jù)處理軟件，實現(xiàn)外部控制





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