美***RTI 自動(dòng)特性圖示儀型號(hào)：MT Century Curve Tracer
什么是Curve Tracing?
"Curve tracing" 曲線追蹤是用于尋找IC芯片中被電損壞的引腳的方法。MultiTrace產(chǎn)品提供了廣泛的***系列解決方案，從使用powered curve tracing測(cè)試小型芯片的開(kāi)路/短路到使用Latch Up testing測(cè)試與更為復(fù)雜的多電路的芯片。
RTI＇s MT Century Curve Tracer
RTI 開(kāi)發(fā)的MT Century Curve Tracer是***個(gè)性?xún)r(jià)比較高的曲線追蹤設(shè)備。MT Century Curve Tracer測(cè)試設(shè)備，*多到96個(gè)channel，提供4種型號(hào)可供客粞≡瘢歡嵴業(yè)揭豢罘峽突У腦に慵安饈砸蟮南到y(tǒng)。MT Century Curve Tracer 與RTI其他大型curve trace擁有***樣的可靠性，功率和軟件。像其他RTI機(jī)型***樣，MT Century系y的設(shè)計(jì)有與950系列的測(cè)試A具及其它專(zhuān)用A具連接的接口。
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RTI＇s MultiTrace Test System
原淼淖遠(yuǎn)吒倨饕丫峁┏10年。這款系統(tǒng)可以檢測(cè)達(dá)625引腳。 它有各種尺寸可供選擇，以滿(mǎn)足*廣泛用艫男棖蟆
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MultiTrace 的應(yīng)用:
· 無(wú)源曲線追蹤器 (Unpowered Curve Tracing):
檢測(cè)開(kāi)路，短路和漏電流
· 有源曲線追蹤器 (Powered Curve Tracing):
檢測(cè)漏電流，供電電流問(wèn)}。 測(cè)量大量有用的⑹
· 電源電流測(cè)量(Supply Current Measurements):
兩種方法y量電流供應(yīng) 。
A 6-Bus 系y可同r對(duì)3組電源y量
· Latch Up 測(cè)試: (選配)
根據(jù)JESD 78 特征, 找出 Latch-Up 敏感度 .
基礎(chǔ) Curve Tracing 的應(yīng)用:
· Input-Output 轉(zhuǎn)換功能:
將輸入電壓接到引_上，測(cè)量出引腳電平變化.
· 對(duì)晶體管做曲線分析:
檢測(cè)任何型號(hào)的晶體管
· 顯微R:
使用顯微鏡定位原件的損傷部位.
· IDDQ 測(cè)試:
測(cè)量芯片每個(gè)狀態(tài)的電流輸入
· 功能性的引導(dǎo)能力:
Change Input Pin States According to an Input File Then Measure What you Need. Ability to Measure Output States Allows for Gross Functional Testing
根據(jù)所入信息改變輸入 Pin的狀態(tài)，然后進(jìn)行量測(cè)。y量出區(qū)域的功能測(cè)試狀態(tài)。
· Kelvin 4-Wire 阻力測(cè)試:
使用@種特制的應(yīng)用軟件來(lái)控制開(kāi)關(guān)矩陣和收集的數(shù)據(jù)，實(shí)現(xiàn)精密的電阻y量。
RTI＇s MegaTrace 自動(dòng)直流登咦紛
MegaTrace由648引腳開(kāi)始***直到2160的引腳，因此其有足虻哪芰聿饈約負(fù)躒魏渦酒；骷苫細(xì)擼ê莧菀滓貧部梢雜肫淥儀器如顯微R，探針臺(tái)，以及其他遠(yuǎn)程測(cè)試機(jī)器***起使用。
曲線追蹤功能
· Unpowered 曲線追蹤 (連續(xù)測(cè)試)
· Powered 曲線追蹤
· Supply Current Characterization (Idd 測(cè)試)
· 6條總線系統(tǒng)的2VDD 及 3 VDD 湔
其它測(cè)量及測(cè)試功能
· Latch-Up 測(cè)試
· 功能性預(yù)處理
· 任何的±15V ***& ±1A直流測(cè)量
滬公網(wǎng)安備31011502016460號(hào)
