產(chǎn)品特征：
· 易于安裝
· 基于視窗結構的軟件，很容易操作
· 的光學設計，以確保能發(fā)揮出*佳的系統(tǒng)性能
· 基于陣列設計的探測器系統(tǒng)，以確保快速測量
· 獨特的光源設計，有著較好的光源強度穩(wěn)定性
· *多可測量5層的薄膜厚度和折射率
· 在毫秒的時間內，可以獲得反射率、透射率和吸收光譜等***些參數(shù)
· 能夠用于實時或在線的厚度、折射率測量
· 系統(tǒng)配備大量的光學常數(shù)數(shù)據(jù)及數(shù)據(jù)庫
· 對于每個被測薄膜樣品，用戶可以利用的軟件功能選擇使用NK數(shù)據(jù)庫、也可以進行色散或者復合模型（EMA）測量分析；
· 可升***至MSP（顯微分光光度計）系統(tǒng)，SRM成像系統(tǒng)，多通道分析系統(tǒng)，大點測量。
· 通過模式和特性結構直接測量。
· 提供的各種配件可用于特殊結構的測量，例如通過曲線表面進行縱長測量。
· 2D和3D的圖形輸出和友好的用戶數(shù)據(jù)管理界面。
系統(tǒng)配置
型號：SRT100
檢測器：雙通道CCD陣列的每個像素2048
光源：氘燈和高功率鹵素燈
光傳輸：光纖
載物臺：黑色鋁合金樣品測量平臺輕松調整高度，100mmx100mm尺寸
通訊：USB
測量類型：薄膜厚度，反射光譜，透射光譜，折射率
軟件：TFProbe 2.3
電腦需要：常規(guī)配置
電源：110 - 240伏交流電/ 50 - 60Hz的，1.5A
保修：1年
產(chǎn)品規(guī)格
波長范圍：250nm到1100 nm
光斑尺寸：500μm至5mm
樣品尺寸：100mmx100mm
基板尺寸：*多可至50毫米厚
測量厚度范圍*：5nm-50μm
測量時間：*快2毫秒
精確度：優(yōu)于0.5％（通過使用相同的光學常數(shù)，讓橢偏儀的結果與熱氧化物樣品相比較）
重復性誤差*：小于1A
產(chǎn)品應用:
半導體制造（PR，Oxide, Nitride..）
液晶顯示（ITO，PR，Cell gap... ..）
醫(yī)學，生物薄膜及材料領域等
油墨，礦物學，顏料，調色劑等
醫(yī)藥，中間設備
光學涂層，TiO2, SiO2, Ta2O5... ..
半導體化合物 非晶體，納米材料和結晶硅
在MEMS/MOEMS系統(tǒng)上的功能性薄膜
滬公網(wǎng)安備31011502016460號
