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能量過(guò)濾透過(guò)式電鏡(EFTEM)
日立新型FIB系統(tǒng)MI4050
價(jià) 格:詢(xún)價(jià)
產(chǎn) 地:更新時(shí)間:2021-01-18 15:25
品 牌:型 號(hào):MI4050
狀 態(tài):正常點(diǎn)擊量:2633
400-006-7520
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上海非利加實(shí)業(yè)有限公司
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產(chǎn)品介紹:
MI4050是高效率的聚焦離子束設(shè)備,它使用了全新的電子光學(xué)系統(tǒng),具有世界的SIM圖像分辨率,并且TEM樣品制備效果優(yōu)異。MI4050廣泛用于截面觀察、微電路修復(fù)、納米圖像制備和納米沉積等。
主要特點(diǎn):
1. 高效率、高質(zhì)量加工,二次離子分辨率:4nm@30kV
2. 高分辨、高襯度SIM成像
3. 全自動(dòng)TEM樣品制備
4. 大尺寸樣品加工
應(yīng)用領(lǐng)域:
1. 納米材料微加工
2. 半導(dǎo)體及電子元器件材料
3. 生命科學(xué)
