蔡司超高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 300/VP
價(jià) 格：詢價(jià)
產(chǎn) 地：更新時(shí)間：2021-01-18 15:21
品 牌：型 號(hào)：GeminiSEM 300/VP
狀 態(tài)：正常點(diǎn)擊量：1691
400-006-7520
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)說明是在上海非利加實(shí)業(yè)有限公司上看到的，謝謝！
聯(lián) 系 人：
上海非利加實(shí)業(yè)有限公司
電 話：
400-006-7520
傳 真：
400-006-7520
配送方式：
上海自提或三方快遞
聯(lián)系我時(shí)請(qǐng)說在上海非利加實(shí)業(yè)有限公司上看到的,謝謝！
詳細(xì)描述：
品牌：卡爾?蔡司 | 型號(hào)：GeminiSEM 300/VP |
制造商：德***卡爾蔡司公司 | 經(jīng)銷商：歐波同有限公司 |
【品牌故事】
世界光學(xué)品牌，可見光及電子光學(xué)的領(lǐng)導(dǎo)企業(yè)----德***蔡司公司始創(chuàng)于1846年。其電子光學(xué)前身為LEO（里奧）,更早叫Cambridge（劍橋），積掃描電鏡領(lǐng)域40多年及透射電鏡領(lǐng)域60年的經(jīng)驗(yàn)，ZEISS電子束技術(shù)在世界上創(chuàng)造了數(shù)個(gè)： 臺(tái)靜電式透射電鏡 (1949)
臺(tái)商業(yè)化掃描電鏡 (1965)
臺(tái)數(shù)字化掃描電鏡(1985)
臺(tái)場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡(1990)
臺(tái)帶有成像濾波器的透射電鏡 (1992)
臺(tái)具有Koehler照明的 200kV 場(chǎng)發(fā)射透射電鏡(2003)
臺(tái)具有鏡筒內(nèi)校正Omega能量濾波器的場(chǎng)發(fā)射透射電鏡(2003) CARL ZEISS以其前瞻性至臻完美的設(shè)計(jì)融合歐洲至上制造工藝造就了該品牌在光電子領(lǐng)域無可撼動(dòng)的***地位。自成立至今，***直延續(xù)不斷創(chuàng)新的傳統(tǒng)，公司擁有電鏡制造*核心 的專有技術(shù)，隨著離子束技術(shù)和基于電子束的分析技術(shù)的加入、是全球?yàn)槟峁╂u燈絲掃描電鏡、場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡、雙束顯微鏡(FIB and SEM)、透射電子顯微鏡等全系列解決方案的電鏡制造企業(yè)。其產(chǎn)品的高性能、高質(zhì)量、高可靠性和穩(wěn)定性已得到全世界廣大用戶的信賴與認(rèn)可。作為全球電鏡標(biāo)準(zhǔn)***的CARL ZEISS將***路領(lǐng)跑高端電鏡市場(chǎng)為您開創(chuàng)探求納米科技的嶄新紀(jì)元。 |
【總體描述】
二十多年來，基于日漸完善的Gemini技術(shù)，GeminiSEM具有完整高效的檢測(cè)系統(tǒng)、極高的分辨率以及簡(jiǎn)便的操作方式。Gemini物鏡設(shè)計(jì)將靜電場(chǎng)與磁場(chǎng)結(jié)合，可在限度地提升光學(xué)性能的同時(shí)將場(chǎng)發(fā)射對(duì)樣品的損傷降至。此設(shè)計(jì)確保了極佳的成像質(zhì)量，即使是較具挑戰(zhàn)性的磁性材料也同樣可以達(dá)到良好的成像效果。通過二次電子和背散射電子的檢測(cè)也使得高效率的信號(hào)探測(cè)成為可能。探測(cè)器安裝在光軸上，可以減少調(diào)整時(shí)間，并可限度地降低成像時(shí)間。Gemini電子束加速器技術(shù)確保了小的探針尺寸和高的信噪比，以達(dá)到超低的加速電壓。 |
【技術(shù)參數(shù)】 分辨率： 0.8nm @15 kV 1.4 nm @1kV 放大倍數(shù)：12-2,000,000× 加速電壓：調(diào)整范圍：0.02-30 kV（無需減速模式實(shí)現(xiàn)） 探針電流： 3pA-20nA（100nA可選） 低真空范圍： 10-500Pa （GeminiSEM300 VP可用） 樣品室： 330 mm（φ），270 mm（h） 樣品臺(tái)：5軸優(yōu)中心全自動(dòng) X=130mm Y=130mm Z=50 mm T=-3o-70o R=360o 連續(xù) 系統(tǒng)控制：基于Windows 7的SmartSEM操作系統(tǒng)，可選鼠標(biāo)、鍵盤、控制面板控制 |
【產(chǎn)品應(yīng)用】
掃描電鏡(SEM)廣泛地應(yīng)用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機(jī)械加工)和非金屬材料(化學(xué)、化工、石油、地質(zhì)礦物學(xué)、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維)等 檢驗(yàn)和研究。在材料科學(xué)研究、金屬材料、陶瓷材料、半導(dǎo)體材料、化學(xué)材料等領(lǐng)域進(jìn)行材料的微觀形貌、組織、成分分析，各種材料的形貌組織觀察，材料斷口分 析和失效分析，材料實(shí)時(shí)微區(qū)成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面掃描和線掃描分布測(cè)量，晶體、晶粒的相鑒定，晶粒尺寸、形狀分析，晶體、晶 粒取向測(cè)量。 |
滬公網(wǎng)安備31011502016460號(hào)
