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全新設(shè)計(jì)的S8000超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡可以提供無與倫比的圖像質(zhì)量，具有強(qiáng)大的擴(kuò)展分析能力，能夠滿足現(xiàn)今工業(yè)研發(fā)和科研的所有需求，不僅適用于高端的納米分析應(yīng)用，也給操作者帶來舒適、高效的使用體驗(yàn)。

S8000 FE-SEM的優(yōu)點(diǎn)：

• 新***代鏡筒內(nèi)電子加速、減速技術(shù)，保證了復(fù)雜樣品的低電壓高分辨觀測(cè)能力

• ***次配置的靜電-電磁復(fù)合物鏡，物鏡無磁場(chǎng)外泄，實(shí)現(xiàn)磁性樣品高分辨成像及分析

• 配置4個(gè)新***代探測(cè)器，可實(shí)現(xiàn)9種圖像觀測(cè)，對(duì)樣品信息的采集更加全面

• 配置大型樣品室，有超過20個(gè)擴(kuò)展接口，為原位觀測(cè)、分析創(chuàng)造了良好的工作環(huán)境

• 可以配置TESCAN自有或第三方的多種擴(kuò)展分析附件，如EDS、EBSD、CL、EBL，并獨(dú)***實(shí)現(xiàn)與Raman聯(lián)用
  

創(chuàng)新的電子光學(xué)鏡筒，使電鏡擁有更加出色的超高分辨率

TESCAN S8000配置了*新的BrightBeam?鏡筒，實(shí)現(xiàn)了無磁場(chǎng)超高分辨成像，可以化的實(shí)現(xiàn)各種分析，包括磁性樣品的分析。新型鏡筒中的電子光路設(shè)計(jì)增強(qiáng)了低能量電子成像分辨率，特別適合對(duì)電子束敏感樣品和不導(dǎo)電樣品的分析。

另外，EquiPower?透鏡技術(shù)可有效減少能量損耗并保證電子鏡筒的穩(wěn)定性。

BrightBeam?電子光學(xué)鏡筒及探測(cè)器系統(tǒng)
（A）Axial detector (In-Beam)
（B）Multidetector (In-Beam)
（C）E-T detector (In-Chamber)
（D）Retractable BSE (In-Chamber)


配備*新的多種探測(cè)器，更好的表面靈敏度和對(duì)比度

S8000可配置*新的多種探測(cè)器，包括透鏡內(nèi)Axial detector 以及 Multidetector，可選擇不同角度和不同能量來收集信號(hào)，體現(xiàn)更多種類的信息，同時(shí)獲得更好的表面靈敏度和對(duì)比度。