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ZEISS Sigma 500場發(fā)射掃描電子顯微鏡

價  格:詢價

產(chǎn)  地:更新時間:2021-01-18 15:03

品  牌:型  號:Sigma 500

狀  態(tài):正常點擊量:2113

400-006-7520
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上海非利加實業(yè)有限公司

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配送方式: 上海自提或三方快遞

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Sigma 500

用于高品質成像與高***分析的場發(fā)射掃描電子顯微鏡

  • 靈活的探測,4步工作流程,高***的分析性能

    將高***的分析性能與場發(fā)射掃描技術相結合,利用成熟的 Gemini 電子光學元件。多種探測器可選:用于顆粒、表面或者納米結構成像。Sigma 半自動的4步工作流程節(jié)省大量的時間:設置成像與分析步驟,提高效率。


    Sigma 500 裝配有***流的背散射探測器,可快速方便地實現(xiàn)基礎分析。任何時間,任何樣品均可獲得***可重復的分析結果。


  • 基于成熟的 Gemini 技術

    • Gemini 鏡頭的設計結合考慮了電場與磁場對光學性能的影響,并將場對樣品的影響降至更低。這使得即使對磁性樣品成像也能獲得出色的效果。

    • Gemini in-lens 的探測確保了信號探測的效率。通過二次檢測(SE)和背散射(BSE)元件同時減少成像時間

    • Gemini 電子束加速器技術確保了小的探測器尺寸和高的信噪比。


  • 用于清晰成像的靈活探測

    • 利用探測術為您的需求定制 Sigma,表征所有樣品。

    • 利用 in-lens 雙探測器獲取形貌和成份信息。

    • 利用新***代的二次探測器,獲取高達50%的信號圖像。在可變壓力模式下利用 Sigma 創(chuàng)新的 C2D 和 可變壓力探測器,在低真空環(huán)境下獲取高達85%對比度的銳利的圖像。


靈活的檢測器選項,獲取清晰圖像
  • 使用新穎的ETSE和Inlens探測器在高真空下獲取高分辨率表面形貌信息。

  • 使用VPSE或C2D檢測器在可變壓力模式下獲得清晰圖像。

  • 使用aSTEM檢測器生成高分辨率透射圖像。

  • 使用BSD4或YAG檢測器分析成分。


  • 高***分析型顯微鏡

    • 將掃描電子顯微鏡與基本分析相結合:Sigma ***流的背散射幾何探測器大大提升了分析性能,特別是對電子束敏感的樣品。

    • 在***半的檢測束流和兩倍的速度條件下獲取分析數(shù)據(jù)。

    • 獲益于8.5 mm 短的分析工作距離和35°夾角,獲取完整且無陰影的分析結果。



產(chǎn)品參數(shù)


產(chǎn)品介紹



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