osp厚度測量儀
價(jià) 格：詢價(jià)
產(chǎn) 地：更新時(shí)間：2021-01-15 17:58
品 牌：型 號：ST4080-osp
狀 態(tài)：正常點(diǎn)擊量：2306
400-006-7520
聯(lián)系我時(shí)，請說明是在上海非利加實(shí)業(yè)有限公司上看到的，謝謝！
聯(lián) 系 人：
上海非利加實(shí)業(yè)有限公司
電 話：
400-006-7520
傳 真：
400-006-7520
配送方式：
上海自提或三方快遞
聯(lián)系我時(shí)請說在上海非利加實(shí)業(yè)有限公司上看到的,謝謝！
ST4080-OSP（有機(jī)可焊性保護(hù)膜）專用于測量PCB/PWB上銅鉑厚度。它屬于使用分光反射法的非破壞性光學(xué)測量儀，它可提供平均厚度和詳細(xì)的3D平面輪廓資料，使得實(shí)時(shí)檢測無需任何的樣品制備。
由于ST4080-OSP具有測量很小面積與自動聚焦功能，適用于PCB基板表面的實(shí)模式。ST4080-OSP基于科美公司的厚度測量技術(shù)，而它在半導(dǎo)體，平板顯示與其他電子材料行業(yè)方面的可靠性得到了證實(shí)。
為什么要選擇 ST4080-OSP?
ST4080-OSP使用反射測量法提供PCB/PWB表面OSP涂層厚度的非接觸和非破壞性實(shí)時(shí)測量。
ST4080-OSP 無需樣品制備，可確保快速和簡便操作。
ST4080-OSP測量的光斑尺寸可減小到0.135，這使得它可測量表面粗糙的銅的OSP涂層厚度.
ST4080-OSP 與紫外可見分光計(jì)，受迫離子束方法，時(shí)序電化學(xué)還原分析還有其他的測量方法相比較，它基于更可靠的測量技術(shù)。
ST4080-OSP 可獲取420nm~640nm范圍內(nèi)的多波長光譜。
ST4080-OSP可提供各點(diǎn)和它們的平均厚度的詳細(xì)數(shù)據(jù)，這樣可幫助人們更好地控制OSP質(zhì)量。
ST4080-OSP 通過3D表面形態(tài)學(xué)將測量程序*優(yōu)化。 |
| 在電路行業(yè)，有機(jī)可焊性保護(hù)膜（OSP）涂層的使用對保護(hù)銅表面防止氧化是必需的。
關(guān)于RoHS指令，該保護(hù)膜涂層要求無鉛適用，易加工和低成本。它的標(biāo)準(zhǔn)厚度測量范圍是0.1~0.5μm。
ST4080-OSP 通過分析基板上薄膜表面的反射光和基板表面的反射光之間的光譜干涉來測量薄膜厚度。ST4080-OSP 同時(shí)測量多個(gè)光斑，并以輪廓形式顯示厚度測量結(jié)果。
ST4080-OSP有兩種光學(xué)透鏡。用戶可使用5倍的光學(xué)透鏡方便地進(jìn)入詳細(xì)模式的自選區(qū)域，再通過使用50倍的光學(xué)透鏡獲取詳細(xì)厚度輪廓。
 |
|
技術(shù)參數(shù)：波長范圍 | 420nm-640nm |
測量范圍 | 0.035-3um |
*小光斑尺寸 | 1.35 , 0.135 |
測試面積 | 864X648 /86.4X64.8 |
放大倍數(shù) | 5X，50X |
測量層 | 1 |
Z軸再現(xiàn)性 | ± 1 |
滬公網(wǎng)安備31011502016460號
