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日本日置HIOKI 3504-60電容測試儀，HIOKI3504-60 C測試儀
HIOKI 3504-60電容測試儀封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等 分類等
HIOKI 3504-60電容測試儀高速測量2ms
能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測量值，進行被測物合格與否的判斷
對應(yīng)測試線，比側(cè)儀功能/觸發(fā)輸出功能
3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的測試
3504-40記錄工具，實現(xiàn)高速/低成本的測試
查出全機測量中的接觸錯誤，提高成品率
輸入用探頭/測試夾具，實體不附帶。按照測量目的，不同型號有不同的探頭/測試夾具選件
日本日置HIOKI 3504-60電容測試儀的基本參數(shù)

測量參數(shù)
Cs,Cp（電容）,D（損耗系數(shù)tanδ）
測量范圍
C:0.9400pF～20.0000mF
D:0.00001～1.99000
基本確度
（代表值）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
※測定確度= 基本確度× B× C× D× E, B～Eは各系數(shù)
測量頻率
120Hz, 1kHz
測量信號電平
恒定電壓模式: 100mV （***3504-60） 500 mV, 1 V
測量范圍:
CV 100mV:～ 170μF 量程 （測量頻率 1kHz）, ～ 1.45mF 量程 （測量頻率 120Hz）
CV 500mV: ～ 170μF 量程 （測量頻率 1kHz）, ～ 1.45mF 量程 （測量頻率 120Hz）
CV 1V: ～ 70μF 量程 （測量頻率 1kHz）, ～ 700μF 量程 （測量頻率 120Hz）
輸出電阻
5Ω（開路端子電壓模式,上述測量范圍以外）
顯示
發(fā)光二 管 （6行表示，滿量程計算器根據(jù)量程而定）
測量時間
典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST）
※測量時間根據(jù)測量頻率、測量速度的不同而不同
機能
4端子控制檢測功能（***3504-60），BIN測量（除去3504-40），觸發(fā)同時輸出，儲存測量條件，比較測量值的場強，平均值功能，Low-C抑制功能，鳴叫功能，控制用輸出入（EXT.I/O），RS-232C界面（標準裝備），GP-IB接口（3504-40除外）
電源
AC 100/120/220/240V ±10%（可選擇）, 50/60Hz, 大110VA
體積及重量
260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg
附件
電源線×1，預(yù)備電源保險絲×1，接地適配器×1